一、漂移的三大原因

漂移是阻容法露點(diǎn)儀器經(jīng)常能碰見的問(wèn)題，造成漂移的原因有三個(gè)：

高分子薄膜及金屬氧化物（氧化鋁、氧化硅等）傳感器芯片都具有隨時(shí)間推移而發(fā)生性能變化的特性。

二、 測(cè)量值漂移的原因及方法

導(dǎo)致露點(diǎn)測(cè)量值下降（負(fù)值）的主要原因有四個(gè)。

導(dǎo)致露點(diǎn)測(cè)量值上升（正值）的主要原因有五種。

三、定期校準(zhǔn)、溫度補(bǔ)償及解決反應(yīng)速度問(wèn)題

定期校準(zhǔn)：

高分子薄膜及氧化物傳感器會(huì)隨時(shí)間推移發(fā)生老化變化。

許多測(cè)量（分析）儀器的傳感器元件部分具有隨時(shí)間推移而發(fā)生性能變化的特性。

如果長(zhǎng)期使用未進(jìn)行老化處理的設(shè)備，其性能變化幅度會(huì)顯著增大，從而影響測(cè)量過(guò)程（導(dǎo)致測(cè)量值不準(zhǔn)確等問(wèn)題）。通過(guò)定期校準(zhǔn)（檢查與調(diào)整）來(lái)監(jiān)測(cè)設(shè)備老化情況并及時(shí)進(jìn)行校正，就能有效維持測(cè)量精度。

為確保測(cè)量過(guò)程中實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)的測(cè)量與控制，定期對(duì)測(cè)量?jī)x器進(jìn)行校準(zhǔn)（檢查與調(diào)整）至關(guān)重要。

從上圖可見，長(zhǎng)時(shí)間不校準(zhǔn)會(huì)導(dǎo)致數(shù)值變化非常大。

溫度補(bǔ)償

環(huán)境溫度的變化會(huì)顯著影響露點(diǎn)計(jì)的測(cè)量精度。為確保測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確，必須配置溫度補(bǔ)償電路。

“溫度校正回路"的重要性

當(dāng)出現(xiàn)以下現(xiàn)象時(shí)，效果尤為顯著。

l 周圍溫度的影響較大

l 表現(xiàn)出類似溫度儀的特性

當(dāng)環(huán)境溫度變化1℃時(shí)，若露點(diǎn)出現(xiàn)超過(guò)1℃dp的顯著變化

l 特別是在露點(diǎn)低于50℃dp的區(qū)域，測(cè)量誤差會(huì)顯著顯現(xiàn)

可以通過(guò)問(wèn)溫度補(bǔ)償消除干擾。

解決反應(yīng)速度問(wèn)題

當(dāng)實(shí)際露點(diǎn)值與測(cè)量?jī)x器顯示的測(cè)量露點(diǎn)值存在差異時(shí)，這種現(xiàn)象被稱為濕起濕落現(xiàn)象，表現(xiàn)為系統(tǒng)能快速響應(yīng)露點(diǎn)變化。從表面觀察，傳感器的響應(yīng)速度明顯更快。

雖然表面看起來(lái)狀態(tài)良好，但實(shí)際上測(cè)得的露點(diǎn)溫度與實(shí)際值存在偏差，這種測(cè)量方式在實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)測(cè)量時(shí)存在安全隱患。

這種問(wèn)題主要源于校準(zhǔn)數(shù)據(jù)輸入時(shí)出現(xiàn)的誤差。

響應(yīng)速度的快慢最終會(huì)對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量產(chǎn)生重大影響。

要實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)測(cè)量，關(guān)鍵在于準(zhǔn)確把握合適的響應(yīng)速度。